BS EN 140101-2008 空白详细规范.低功率薄膜固定电阻器

作者:标准资料网 时间:2024-05-02 20:38:18   浏览:8249   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:BlankDetailSpecification-Fixedlowpowerfilmresistors
【原文标准名称】:空白详细规范.低功率薄膜固定电阻器
【标准号】:BSEN140101-2008
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2008-05-30
【实施或试行日期】:2008-05-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:空白格式;电容性负载;详细规范;尺寸选定;电气元件;电气工程;电阻;电子设备及元件;薄膜电阻器;固定式薄膜电阻器;固定电阻器;低功率法;非线绕;非线绕电阻器;质量;考核;评定;电阻器;规范;规范(验收);值
【英文主题词】:Blankforms;Capacitiveloads;Detailspecification;Dimensioning;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electricalresistance;Electronicequipmentandcomponents;Filmresistors;Fixedfilmresistors;Fixedresistors;Lowpowermethods;Non-wire-wound;Non-wirewoundresistors;Quality;Rating;Ratings;Resistors;Specification;Specification(approval);Values
【摘要】:Variousparametersofthiscomponentarepreciselydefinedinthisspecification.Unspecifiedparametersmayvaryfromonecomponenttoanother.
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_10
【页数】:30P.;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Connectorsforelectronicequipment-Testsandmeasurements-Chemicalresistancetests-Fluidresistance
【原文标准名称】:电子设备用连接元件.基本试验程序和测量方法.耐化学性能试验.抗液性
【标准号】:BSEN60512-19-3-1998
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1998-01-15
【实施或试行日期】:1998-01-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气元件;液体;缠绕连接;耐化学性;电子设备;测量技术;试验;规范;规范;定义;电气工程;机电的;规范(验收)
【英文主题词】:Chemicalresistance;Components;Connections;Definition;Definitions;Electricalcomponents;Electricalengineering;Electromechanical;Electronicengineering;Electronicequipment;Evaluations;Fasteners;Grease;Liquids;Measuringtechniques;Resistance;Specification;Specification(approval);Specifications;Testing;Wires;Wrappedconnections
【摘要】:ThissectionofIEC60512-19,whenrequiredbythedetailspecification,isusedfortestingelectromechanicalcomponentswithinthescopeofIECtechnicalcommittee48.Thistestmayalsobeusedforsimilarcomponentswhenspecifiedinadetailspecification.Theobjectofthistestistodefineastandardtestmethodtoassesstheeffectsofaccidentalexposuretofluidsandlubricantsonelectricalconnectingdevices.
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:31_220_01
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Bias-temperaturestabilitytestformetal-oxide,semiconductor,field-effecttransistors(MOSFET).
【原文标准名称】:金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
【标准号】:NFC96-051-2006
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2006-10-01
【实施或试行日期】:2006-10-20
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:检验设备;组件;定义;电气工程;电子工程;电子设备及元件;场效应晶体管;极限(数学);测量设备;额定值;半导体器件;稳定性;温度应力;试验;试验装置;热应力;晶体管
【英文主题词】:Checkingequipment;Components;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Field-effecttransistors;Limits(mathematics);Measuringequipment;Ratings;Semiconductordevices;Stability;Temperaturestress;Testing;Testingdevices;Thermalstress;Transistors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:15P.;A4
【正文语种】:其他